<展示会出展のお知らせ> SEMICON JAPAN 2025
平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。
弊社は下記のとおり展示会に出展致します。
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<出展概要>
展示会名 : SEMICON JAPAN 2025
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開催日時 :2025年12月17日(水)〜12月19日(金)10:00〜17:00
展示会場 :東京ビッグサイト
小間位置 :西ホール1階 「Metrology & Inspection Area」 W1963
展示内容 :半導体ウェハ 表面欠陥検査装置
見どころ :
『その欠陥、クボタが見つける』をキーワードに表面欠陥検査装置をご紹介します
【レーザー式】PSL 50nm(オプション40nm)相当の微小欠陥を検出可能
【顕微鏡式】全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の顕微鏡観察が可能
【自動目視】目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別可能
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是非弊社ブースへお立ち寄りください。
皆様のご来場、心よりお待ち申し上げております。
